RET670主变过励磁保护逻辑缺陷分析及其改进

赵晓明<sup>1</sup>; 余志慧<sup>2</sup>

引用本文:	赵晓明,余志慧.RET670主变过励磁保护逻辑缺陷分析及其改进[J].电力系统保护与控制,2010,38(4):124-125,129.
	.[J].Power System Protection and Control,2010,38(4):124-125,129

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RET670主变过励磁保护逻辑缺陷分析及其改进
赵晓明¹, 余志慧²
1.浙江省电力试验研究院，浙江杭州 310014;2.杭州市电力局，浙江杭州 310016

摘要:

介绍了一起在现场试验中发现的RET670主变过励磁保护无法启动220 kV以及500 kV断路器失灵保护故障。针对此现象对RET670主变过励磁保护固有逻辑及其外部可编程逻辑进行了详细的分析和试验，发现只有在提高过励磁保护出口跳闸脉宽整定时间时才能正常启动失灵保护，否则过励磁保护均无法启动失灵保护，将导致在主变故障同时220 kV或500 kV断路器拒动时事故扩大，存在很大的安全隐患。针对RET670过励磁保护逻辑和失灵保护逻辑无法配合的缺陷，文中提出了解决方案，可以解决RET670过励磁保护无法启动失灵保护问题。

关键词: 过励磁保护失灵保护可编程逻辑

DOI：10.7667/j.issn.1674-3415.2010.04.030

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