引用本文:辛振涛,尚德基,尹项根.一种双端测距算法的伪根问题与改进[J].电力系统保护与控制,2005,33(6):36-38,45.
.[J].Power System Protection and Control,2005,33(6):36-38,45
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一种双端测距算法的伪根问题与改进
辛振涛1, 尚德基2, 尹项根
1. 华中科技大学电气与电子工程学院,湖北 武汉 430074;2. 郑州广播电视大学,河南 郑州 450052
摘要:
双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响,得到了广泛的关注。但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中,原理上存在伪根的可能性,在某些情况下,会得到错误的测距结果,因此需要对该测距算法进行改进。该文首先对产生伪根的原因进行了深入地分析,并在此基础上,对原算法进行了改进,提出了判别伪根的原则,使其更具通用性,并利用EMTP程序仿真验证了改进后的测距算法。
关键词:  测距  算法  伪根  EMTP
DOI：10.7667/j.issn.1674-3415.2005.06.009
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Abstract:
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